Materialprüfung
Unsere Auflichtmikroskope sind vielseitig einsetzbar in der Untersuchung technischer Oberflächen, sowohl in der Materialprüfung und in der Qualitätssicherung. Für niedrige Vergrößerungen eignet sich das Stereomikroskop Wiloskop, für höchste Vergrößerung steht das H 600 AM 50 zur Verfügung.
Die Mikroskope können um umfangreiches Zubehör ergänzt werden. Für dimensionelle Messungen können unsere Mikroskope mit dem Kamera-Kit Basler Microscopy pulse 5.0 MP ausgestattet werden.
Instrumente
H 600 AM AL/DL 50
Für die Untersuchung opaker Werkstoffe im Auflicht und transparenter Objekte im Durchlicht
- Kontrastierverfahren: Hellfeld (Auflicht und Durchlicht)
- Okulare: WF10x/18
- Beobachtungstubus: binokular
- Objektive: EPI 4:1, EPI 10:1, EPI 20:1, EPI 40:1
- Kondensor: NA0,9 (Durchlicht)
- Beleuchtung: Halogenlampe, 30 W (Durchlicht)
- Auflicht: Illuminator mit 150 W-Faserlichtquelle
- Mikroskoptisch: absenkbar
Wiloskop ST
Stereomikroskop zur Untersuchung und Vermessung opaker Werkstoffe im Auflicht
- Kontrastierverfahren: Hellfeld (Auflicht)
- Okulare: WF10x/22
- Optisches System: trinokular, mit C-Mount-Adapter 0,5x
- „Objektivvergrößerung: 0,67x-4,5x"
- Auflicht: LED-Ringlicht, segmentierbar
- Stativ: mit Fokussierarm und Schwarz-Weiß-Wechselplatte
H 600 AM 50
Für die Untersuchung und Vermessung opaker Werkstoffe im Auflicht
- Kontrastierverfahren: Hellfeld (Auflicht)
- Okulare: WF10x/18
- Beobachtungstubus: trinokular, mit C-Mount-Adapter 0.5x
- Objektive: EPI 4:1, EPI 10:1, EPI 20:1, EPI 40:1
- Auflicht: Illuminator mit 150 W-Faserlichtquelle
- Mikroskoptisch: absenkbar