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Industriemikroskope

H 600 AM AL/DL 50

H 600 AM AL/DL 50

Für die Untersuchung opaker Werkstoffe im Auflicht und transparenter Objekte im Durchlicht

Das H 600 AM AL/DL 50 ist ausgestattet mit einer Durchlicht-Beleuchtung, mit einem Auflichtilluminator mit Halogen-Beleuchtung und mit speziellen Auflicht-Objektiven zur Untersuchung von opaken Werkstoffen. Ein absenkbarer Tisch erlaubt die Untersuchung von bis zu 50 mm hohen Werkstücken. Das schwere Gussstativ garantiert ergonomisches Arbeiten, hohe Stabilität und Haltbarkeit.

  • Kontrastierverfahren: Hellfeld (Auflicht und Durchlicht)
  • Okulare: WF10x/18
  • Beobachtungstubus: binokular
  • Objektive: EPI 4:1, EPI 10:1, EPI 20:1, EPI 40:1 
  • Kondensor: NA0,9 (Durchlicht)
  • Beleuchtung: Halogenlampe, 30 W (Durchlicht)
  • Auflicht: Illuminator mit 150 W-Faserlichtquelle
  • Mikroskoptisch: absenkbar

Details   Individuelle Ausstattung möglich

Wiloskop ST PF

Wiloskop ST PF

Stereomikroskop zur Untersuchung und Vermessung opaker Werkstoffe im Auflicht

Das Wiloskop ST-PF ist ausgestattet mit einem segmentierbaren LED-Ringlicht als Auflichtbeleuchtung. Die optische Vergrößerung ist zwischen 6,7x und 45x stufenlos einstellbar und kann mit optionalen Vorsatzlinsen und Okularen bis auf 180x erhöht werden. Mit dem pixel-fox-System können hochauflösende mikroskopische Bilder erstellt und auch vermessen werden.

  • Kontrastierverfahren: Hellfeld (Auflicht)
  • Okulare: WF10x/22
  • Optisches System: trinokular, mit C-Mount-Adapter 0,5x
  • Objektivvergrößerung: 0,67x-4,5x
  • Auflicht: LED-Ringlicht, segmentierbar
  • Stativ: mit Fokussierarm und Schwarz-Weiß-Wechselplatte
  • Messsystem: pixel-fox (dhs Solution GmbH)

Details

H 600 AM PF

H 600 AM PF

Für die Untersuchung und Vermessung opaker Werkstoffe im Auflicht

Das H 600 AM PF ist ausgestattet mit einem Auflichtilluminator mit Halogen-Beleuchtung und mit speziellen Auflicht-Objektiven zur Untersuchung von Werkstoffoberflächen. Ein absenkbarer Tisch erlaubt die Untersuchung von bis zu 50 mm hohen Werkstücken. Das schwere Gussstativ garantiert ergonomisches Arbeiten, hohe Stabilität und Haltbarkeit. Mit dem pixel-fox-System können hochauflösende mikroskopische Bilder erstellt und auch vermessen werden.

  • Kontrastierverfahren: Hellfeld (Auflicht)
  • Okulare: WF10x/18
  • Beobachtungstubus: trinokular, mit C-Mount-Adapter 0.5x
  • Objektive: EPI 4:1, EPI 10:1, EPI 20:1, EPI 40:1
  • Auflicht: Illuminator mit 150 W-Faserlichtquelle
  • Mikroskoptisch: absenkbar
  • Messsystem: pixel-fox (dhs Solution GmbH)

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