Industriemikroskope
H 600 AM AL/DL 50
Für die Untersuchung opaker Werkstoffe im Auflicht und transparenter Objekte im Durchlicht
Das H 600 AM AL/DL 50 ist ausgestattet mit einer Durchlicht-Beleuchtung, mit einem Auflichtilluminator mit Halogen-Beleuchtung und mit speziellen Auflicht-Objektiven zur Untersuchung von opaken Werkstoffen. Ein absenkbarer Tisch erlaubt die Untersuchung von bis zu 50 mm hohen Werkstücken. Das schwere Gussstativ garantiert ergonomisches Arbeiten, hohe Stabilität und Haltbarkeit.
- Kontrastierverfahren: Hellfeld (Auflicht und Durchlicht)
- Okulare: WF10x/18
- Beobachtungstubus: binokular
- Objektive: EPI 4:1, EPI 10:1, EPI 20:1, EPI 40:1
- Kondensor: NA0,9 (Durchlicht)
- Beleuchtung: Halogenlampe, 30 W (Durchlicht)
- Auflicht: Illuminator mit 150 W-Faserlichtquelle
- Mikroskoptisch: absenkbar
Details Individuelle Ausstattung möglich
Wiloskop ST PF
Stereomikroskop zur Untersuchung und Vermessung opaker Werkstoffe im Auflicht
Das Wiloskop ST-PF ist ausgestattet mit einem segmentierbaren LED-Ringlicht als Auflichtbeleuchtung. Die optische Vergrößerung ist zwischen 6,7x und 45x stufenlos einstellbar und kann mit optionalen Vorsatzlinsen und Okularen bis auf 180x erhöht werden. Mit dem pixel-fox-System können hochauflösende mikroskopische Bilder erstellt und auch vermessen werden.
- Kontrastierverfahren: Hellfeld (Auflicht)
- Okulare: WF10x/22
- Optisches System: trinokular, mit C-Mount-Adapter 0,5x
- Objektivvergrößerung: 0,67x-4,5x
- Auflicht: LED-Ringlicht, segmentierbar
- Stativ: mit Fokussierarm und Schwarz-Weiß-Wechselplatte
- Messsystem: pixel-fox (dhs Solution GmbH)
H 600 AM PF
Für die Untersuchung und Vermessung opaker Werkstoffe im Auflicht
Das H 600 AM PF ist ausgestattet mit einem Auflichtilluminator mit Halogen-Beleuchtung und mit speziellen Auflicht-Objektiven zur Untersuchung von Werkstoffoberflächen. Ein absenkbarer Tisch erlaubt die Untersuchung von bis zu 50 mm hohen Werkstücken. Das schwere Gussstativ garantiert ergonomisches Arbeiten, hohe Stabilität und Haltbarkeit. Mit dem pixel-fox-System können hochauflösende mikroskopische Bilder erstellt und auch vermessen werden.
- Kontrastierverfahren: Hellfeld (Auflicht)
- Okulare: WF10x/18
- Beobachtungstubus: trinokular, mit C-Mount-Adapter 0.5x
- Objektive: EPI 4:1, EPI 10:1, EPI 20:1, EPI 40:1
- Auflicht: Illuminator mit 150 W-Faserlichtquelle
- Mikroskoptisch: absenkbar
- Messsystem: pixel-fox (dhs Solution GmbH)
Details Individuelle Ausstattung möglich